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仪器种类:双光束分光光度计
光学几何测量:漫射照明/0°
照明光源:脉冲氙灯,D65滤镜
球径152 毫米/ 6.0 英寸
光谱分析器:SP2000分析器,256个双阵列光电二极管与高分辨率全息光栅
波长范围:360纳米到700纳米
输出间距:10 纳米
有效带宽:10 纳米
波长分辨率:2 纳米
测光范围:0 to 200%
光度分辨率:0.003%
黑筒:高性能
采用双闪光20次测量白砖读数重复性 (CIELAB公制):0.02 (大)
仪器间数据差异: 1 (CIELAB公制)0.4 (大), 0.2(平均)
镜头:3 位自动变焦
XLAV 孔径挡板:34 毫米照射和30毫米测量
SAV 孔径挡板:9 毫米照射和5毫米测量
USAV 孔径挡板:6.5 毫米照射和2.5毫米测量
自动紫外控制:紫外线截止滤波器对荧光样品的自动紫外线校准为395纳米, 420纳米和460纳米
垂直安装:包括窥孔样本查看器和基座试样架
高度:640 毫米
宽度:312 毫米
深度:371 毫米
重量:19.05 千克
电源要求:85 to 264 交流电压, 47 to 63 赫兹, 80 伏安 高值, 35 伏安 标准值l绝对操作范围:5° to 40° C, 5% to 85% 非冷凝相对湿度
接口:RS-232 9600/19200 波特
Datacolor ELREPHO 是一款专为造纸业所设计的高性能分光光度计,非常适合用于基准实验室,或对造纸和涂料制造过程中所用纸浆、纸张和化学品的色彩、亮度、不透明性、黄度及白度进行生产控制。这款双光束分光光度计采用了漫射/0° 光学几何结构及符合 ISO 2469 标准的可调 UV 镜。
纵向配置及贯穿球体的样本观察窗简化了送样和对齐操作,由此提高了测量吞吐量。 仪器附带了三个光圈挡片。 SAV 和 USAV 挡片可用于准确测量样本的小区域和极小区域;而对于求取不规则和粗糙样本的平均值而言,则建议使用 XLAV 挡片。
可兼容之前的 Elrepho 3000 系列,尽可能缩小供应链中所有仪器的台间差。
本仪器还附带了 Datacolor SP 2000 分光光度计,包括: 接近 D65 的耐用脉冲氙灯光源、自动变焦镜头和三波长可调式自动 UV 镜,用于控制光源中的 UV 组件。